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BGA、IC植球、BGA测试治具 产品结构特征:(SOCKET结构) 1、测试操作方便; 2、采用进口全镀硬金双头针(B+F头);能轻松刺破焊接锡球的氧化层,接触稳定,而又不会损坏锡球; 3、探针更换时、维修时,操作方便快捷,成本低, 4、采用的进口绝缘材料,且耐热性好, 5、测试稳定及测试效率高; 6、可定做各种阵列及0.4picth以上的各类SOCKET
显卡测试治具:(5200) 此结构散热性好,测试频率高 专业设计,测试稳定可靠 采用进口探针和防静电材料制作 探针可更换,维修方便
专业生产\销售各类摄像IC(OV)测试座
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